Forschungsprojekte B IMPB AG Reichelt
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Die hochauflösendeFESEM ermöglichtdie Abbildung der Oberfläche von kompakten Proben mit einemAuflösungsvermögen, das demjenigen der TEM an dünnen Proben nahekommt.Die SFM ist eine weitere hochauflösende Untersuchungsmethode, dieOberflächen hochaufgelöst - jedoch nicht nur in Vakuum, sondern auch inLuft oder Flüssigkeit - darstellen kann. Jede einzelne dieser zweiAbbildungsmethoden eröffnet vielseitige interessante Anwendungen,jedoch besitzt ihr kombinierter Einsatz die besonderen Vorzüge vonkomplementärer Information und höherer Interpretationssicherheit derexperimentellen Daten. Adäquate Präparations- undUntersuchungsbedingungen sind allerdings eine wesentliche Voraussetzungfür optimale Untersuchungsergebnisse (s. hierzu auch unter A1 und A2).
In Kooperation mit anderen Instituten / Kliniken / wissenschaftlichenEinrichtungen werden verschiedene Projekte bearbeitet. Nebenbiologisch-medizinischen Objekten (s. z.B. unter D) werden Prothesen,Langmuir-Blodgett- und "self assembly"-Filme auf kompakten Substraten(s. z.B. [5] und Abb. 4),Hydrogele (s. z.B. [6] und Abb. 5),Sensoren, Mikroelektroden (s. z.B. [7]), SFM-Sonden, Mikrotommesser (s.z.B. [8]), Staub- und Nanopartikel (s. z.B. [9] und Abb. 6) sowieFestkörperoberflächen (s. z.B. [10-12] und Abb.7) untersucht. Einige dieser Objekte sind hervorragendgeeignet, um auch methodische Fragestellungen zu bearbeiten;beispielsweise wurde bei niedriger Elektronenenergie anfestkörpergestützten mono- und multimolekularen organischen Schichtenbeobachtet, daß die FESEM auch Informationen über die Dicke, lokalechemische Unterschiede sowie unterschiedliche molekulare Packungsdichteder Schicht liefern kann. Bei bestrahlungssensitiven biologischen /organischen Objekten erfolgt die Untersuchung bei tiefer Temperatur miteinem Kryoprobenhalter.

DPPTE
Abb. 4
NIPA Gel
Abb. 5
Zeolite
Abb. 6
Abb7
Abb. 7

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Literatur:

[5]

Bittermann, AG., Jacobi, S.,Chi, L.F., Fuchs, H., Reichelt, R. (2001). Contrast studies on organicmonolayers of different molecular packing in FESEM and theircorrelation with SFM data. Langmuir 17, 1872-1877.

[6]

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[7]

Wittkampf, M., Cammann, K.,Amrein, M. & Reichelt, R. (1997). Characterization ofmicroelectrode arrays by means of electrochemical and surface analysismethods. Sensors and Actuators, B40, 79-84.

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Matzelle, T.R., Kruse, N.& Reichelt, R. (2000). Characterization of the cutting edge ofglass knives for ultramicrotomy by scanning force microscopy (SFM)using cantilevers with a defined tip geometry. J. Microsc. 199, 239-243.

[9]

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I. Sobchenko, J. Pesicka, D.Baither, R. Reichelt, E. Nembach. Superellipsoids: A Unified AnalyticalDescription of the Geometry of Nano-Scale Second-Phase Particles of anyShape. Appl. Phys. Lett. 89(13)(2006), Art. No. 133107.

[12]

I. Sobchenko, J. Pesicka, D.Baither, W. Stracke, T. Pretorius, L. Chi, R. Reichelt, E. Nembach.Atomic force microscopy (AFM), transmission electron microscopy (TEM),and scanning electron microscopy (SEM) of nano-scale plate-shapedsecond phase particles. Phil. Mag., in press.

 

(Drittmittelgeber: DeutscheForschungsgemeinschaft, Industrie)

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